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MCU/GCU空載測(cè)試平臺(tái)

該設(shè)備具備自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)流程，支持工況編輯導(dǎo)入功能。

       具備歷史數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)與報(bào)告自動(dòng)生成功能及安全保護(hù)功能，保證系統(tǒng)和人員安全。

       滿足零部件的各種測(cè)試要求，包含OBC/DCDC/PTC等測(cè)試、信號(hào)級(jí)測(cè)試等，車(chē)載電子電力設(shè)備性能測(cè)試、常規(guī)功能測(cè)試，以及保護(hù)功能測(cè)試需求。

       應(yīng)用場(chǎng)景：MCU/GCU產(chǎn)品總成組裝完畢后進(jìn)行初次全功能空載測(cè)試，檢測(cè)各零件功能是否完整。